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发明名称 IC LEAD INSPECTING METHOD AND DEVICE
摘要
申请公布号 JPH05256618(A) 申请公布日期 1993.10.05
申请号 JP19920052093 申请日期 1992.03.11
申请人 发明人
分类号 G01B11/02;G01B11/00;G01B11/24;H01L21/66;(IPC1-7):G01B11/24 主分类号 G01B11/02
代理机构 代理人
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