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发明名称 METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING THE LIFETIME ON P-N SEMICONDUCTOR JUNCTIONS BY PHOTOVOLTAIC EFFECT
摘要
申请公布号 EP0335444(B1) 申请公布日期 1993.09.22
申请号 EP19890200716 申请日期 1989.03.21
申请人 SGS-THOMSON MICROELECTRONICS S.P.A. 发明人 RUSSO, VINCENZO
分类号 G01R31/26;G01R31/265 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
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