| 发明名称 |
METHOD OF ANALYZING SEMICONDUCTOR DEVICE OPERATION, METHOD OF ANALYZING SPECIFIC PHYSICAL PHENOMENA, AND APPARATUS FOR PERFORMING THESE METHODS |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP0421684(A3) |
申请公布日期 |
1993.09.22 |
| 申请号 |
EP19900310646 |
申请日期 |
1990.09.28 |
| 申请人 |
KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA |
发明人 |
KURATA, MAMORU, C/O INTELLECTUAL PROPERTY DIVISION;NAKAMURA, SHIN, C/O INTELLECTUAL PROPERTY DIVISION |
| 分类号 |
G06F17/50;(IPC1-7):G06F15/60 |
主分类号 |
G06F17/50 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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