| 摘要 |
Le procédé et le dispositif servent à la mesure d'une variation d'épaisseur de paroi, notamment d'une réduction d'épaisseur de paroi (14), sur la surface intérieure (6) d'un tube (2), à partir de l'extérieur. A cet effet, on applique sur la surface intérieure (6), un revêtement radioactif (10), de préférence sous forme d'un émetteur gamma. Pour des composants nucléaires provenant du circuit primaire d'une centrale nucléaire, un tel revêtement (10) est de toute façon présent. Pour la recherche de l'emplacement (xo) de la réduction d'épaisseur de paroi (14), la densité de flux de rayonnement (I) en fonction de l'emplacement (x) est mesurée le long de l'objet à contrôler (2). On mesure alors, sur ledit emplacement (xo) sur la surface extérieure (4), la densité de flux de rayonnement (I) en fonction de l'énergie (E); on obtient ainsi une courbe comportant des crêtes photoélectriques (P) et des crêtes Compton (C). On établit enfin une relation prédéterminée (V1, V2) entre une grandeur caractéristique de la crête photoélectrique (P) et de la crête Compton (C). Au moyen de courbes d'étalonnage (V1*, V2*), on en déduit la profondeur (t) de la réduction de paroi (14). Il est possible, de cette manière, de détecter quantitativement, non seulement des fissures situées à l'intérieur, mais également des surépaisseurs de paroi. Un procédé analogue peut être également utilisé par mesure des crêtes photoélectriques de deux nucléides différents. |
