| 发明名称 |
INTEGRATED CIRCUIT AND TESTING METHOD FOR SAME |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH05232197(A) |
申请公布日期 |
1993.09.07 |
| 申请号 |
JP19920069038 |
申请日期 |
1992.02.18 |
| 申请人 |
NIPPON TELEGR & TELEPH CORP <NTT> |
发明人 |
MIZUSAWA TAKESHI |
| 分类号 |
G01R31/28;G01R31/30;H01L21/66 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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