| 发明名称 |
METHOD OF SURVEYING AND DETERMINING THICKNESSES AND PROPERTIES OF SUBSURFACE GROUND LAYERS WITHOUT EXCAVATION |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP0295096(B1) |
申请公布日期 |
1993.09.01 |
| 申请号 |
EP19880305269 |
申请日期 |
1988.06.09 |
| 申请人 |
SATOH, TAKENORI |
发明人 |
SATOH, TAKENORI;MESHIDA, MICHIO |
| 分类号 |
E01C23/01;G01B17/02;G01V1/00;G01V1/30 |
主分类号 |
E01C23/01 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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