发明名称 Method and device for calibrating a measuring device.
摘要 <p>2.1 Bei einer Meßeinrichtung, die Meßwerte liefert, welche sich auf Bewegungen in einem Inertialsystem beziehen und mit einem Offset behaftet sind, ergeben sich Einschränkungen der Meßgenauigkeit durch den sogenannten "run to run"-Offset (z.B. Kreisel-Drift). Das ist derjenige Anteil des Offsets, der nach dem Einschalten des Meßsystems jeweils in unterschiedlichem Maße in Abweichung von dem durchschnittlichen Offset auftritt. Zur Kompenisation dieses Anteils des Offsets soll ein Verfahren zur Kalibrierung geschaffen werden. 2.2 Hierzu wird ein Verfahren vorgeschlagen, bei dem zwei Sensorsysteme während der Kalibrierung mechanisch starr miteinander gekoppelt werden und in einer Ursprungsorientierung der Sensorsysteme Meßwert-Vektoren ermittelt werden. Außerdem werden Meßwerte nach dem Umklappen des einen oder anderen Sensorsystemes um 180° um senkrecht zueinander stehende Achse erfaßt. Die gewonnenen Meßwerte liefern nach Summen- und Differenzbildungen Offsetvektoren zur Kalibrierung der Sensorsysteme. &lt;IMAGE&gt;</p>
申请公布号 EP0557592(A1) 申请公布日期 1993.09.01
申请号 EP19920120364 申请日期 1992.11.28
申请人 TELDIX GMBH 发明人 PICKHARD, FRIEDHELM;LIEBSCHER, FRANZ;NEIDHART,. WOLFGANG
分类号 G01C19/42;G01C21/16;G01C25/00;G01P21/00 主分类号 G01C19/42
代理机构 代理人
主权项
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