| 发明名称 |
INSTANTANEOUS TEST-MODE DESIGNATION CIRCUIT |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH05217399(A) |
申请公布日期 |
1993.08.27 |
| 申请号 |
JP19920186773 |
申请日期 |
1992.07.14 |
| 申请人 |
GOLD STAR ELECTRON CO LTD |
发明人 |
KIN GAKUKON |
| 分类号 |
G01R31/28;G01R31/316;G01R31/317;G01R31/3185;G11C11/401;G11C29/00;G11C29/14 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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