发明名称 |
CIRCUITS FOR PERFORMING PARALLEL WRITE TEST IN A SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE |
摘要 |
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申请公布号 |
GB2235555(B) |
申请公布日期 |
1993.08.18 |
申请号 |
GB19900013159 |
申请日期 |
1990.06.13 |
申请人 |
* SAMSUNG ELECTRONICS COMPANY LIMITED |
发明人 |
YOON-HO * CHOI |
分类号 |
G11C11/413;G11C11/401;G11C11/409;G11C29/00;G11C29/28;G11C29/34 |
主分类号 |
G11C11/413 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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