| 发明名称 |
METHOD OF DETERMINATION OF THERMAL RESISTANCE OF JUNCTION-CAN OF SEMICONDUCTOR DIODES |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
RU2003128(C1) |
申请公布日期 |
1993.11.15 |
| 申请号 |
SU19925026787 |
申请日期 |
1992.02.11 |
| 申请人 |
ULYANOVSKIJ POLITEKHNICHESKIJ INSTITUT |
发明人 |
SERGEEV VYACHESLAV A;YUDIN VIKTOR V |
| 分类号 |
G01R31/26;(IPC1-7):G01R31/26 |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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