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发明名称 METHOD OF MEASUREMENT OF CONDUCTANCE OF SEMICONDUCTORS
摘要
申请公布号 RU1827695(C) 申请公布日期 1993.07.15
申请号 SU19914928296 申请日期 1991.04.17
申请人 NAUCHNO-ISSLEDOVATELSKIJ INSTITUT FOTOELEKTRONIKI 发明人 ABDINOV DZHAVAD SH;AGAEV ZAKIR F;ALIEVA TUNZALA D;AKHUNDOVA NAILYA M;TAGIEV MAIL M
分类号 H01L21/66 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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