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La presente invención se refiere a un método para determinar cuantitativamente la condición de ondulación de corto plazo y la condición de ondulación de largo plazo de una superficie tersa reflejante, caracterizado en que comprende: hacer chocar radiación luminosa sobre la superficie en un ángulo con relación al plano de dicha superficie para crear imágenes discretas que se reflejan desde la superficie; detectar a las imágenes reflejadas, las cuales corresponden a la modificación impartida a la radiación luminosa incidente por la superficie: digitalizar dichas imágenes para crear puntos de datos mediante una unidad de procesamiento central capaz de digitalizar imágenes; almacenar dichos puntos de datos en un dispositivo de almacenaniento de computadora; calcular dicha condición de ondulación de corto plazo mediante tratamiento matemático de dichos puntos de datos, calculando primero el ancho promedio de cada una de las imágenes reflejadas y después calcular el promedio global basado en cada anchura promedio; y calcular la condición de ondulación de largo plazo mediante tratamiento matemático de los puntos de datos, generando primero una línea reducida para cada imagen reflejada, ajustando cada línea reducida matemáticamente a un polinomio, el cual determina un ajuste de línea idealizada, calculando la desviación estándar de cada línea reducida a partir de la línea idealizada correspondiente y calculando una desviación estandar promedio con base en cada desviación stándar.
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