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发明名称 SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT BOUNDARY SCAN TEST WITH MULTIPLEXED NODE SELECTION
摘要
申请公布号 US5225834(A) 申请公布日期 1993.07.06
申请号 US19910801359 申请日期 1991.12.02
申请人 MATSUSHITA ELECTRIC INDUSTRIAL CO., LTD. 发明人 IMAI, KIYOSHI;TSUJI, TOSHIAKI;TAKADA, TAKU;TAGUCHI, SEIICHI
分类号 G06F3/05;G01R31/3167;G01R31/3185;H03M1/12 主分类号 G06F3/05
代理机构 代理人
主权项
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