发明名称 VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR DETEKTION VON MUSTERFEHLERN.
摘要
申请公布号 DE3687220(T2) 申请公布日期 1993.07.01
申请号 DE19863687220T 申请日期 1986.12.12
申请人 DAINIPPON SCREEN MFG. CO., LTD., KYOTO, JP 发明人 KITAKADO, LTD., RYUJI DAINIPPON SCREEN MFG.CO.;TSUJINAKA, LTD., HISAYUKI DAINIPPON SCREEN MFG.CO.;KODAMA, LTD., EIJI DAINIPPON SCREEN MFG.CO.;HOKI, TETSUO DAINIPPON SCREEN MFG. CO. LT;SANO, LTD., TETSUO DAINIPPON SCREEN MFG.CO.;ONISHI, LTD., HIROYUKI DAINIPPON SCREEN MFG.CO., HORIKAWA DORI KAMIKYO-KU KYOTO, JP
分类号 H04N7/18;G01B11/24;G01B11/30;G06K9/64;G06T1/00;G06T7/00;H05K3/00;(IPC1-7):G06K9/64;G01N21/88;G06F15/70 主分类号 H04N7/18
代理机构 代理人
主权项
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