发明名称 METHOD AND DEVICE FOR ANALYZING OPERATION OF INTEGRATED CIRCUIT WITH FOCUSED ION BEAM
摘要
申请公布号 JPH05160212(A) 申请公布日期 1993.06.25
申请号 JP19910320793 申请日期 1991.12.04
申请人 SEIKO INSTR INC 发明人 MINAFUJI TAKASHI
分类号 G01R31/28;G01R31/303;H01J37/252;H01L21/66 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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