发明名称 |
底栅薄膜晶体管及其制造方法 |
摘要 |
本发明提供了一种制造底栅薄膜晶体管的方法,其中相对简单容易地形成具有大的晶粒尺寸的多晶硅沟道区。该方法包括:在衬底上形成底栅电极;在所述衬底上形成栅极绝缘层以覆盖所述底栅电极;在所述栅极绝缘层上依次形成非晶半导体层、N型半导体层和电极层;依次蚀刻形成在所述底栅电极上的电极区和N型半导体层区以暴露非晶半导体层区;使用激光退火法熔化所述非晶半导体层区;和结晶所述熔化的非晶半导体层区以形成侧向生长的多晶硅沟道区。 |
申请公布号 |
CN101086968A |
申请公布日期 |
2007.12.12 |
申请号 |
CN200610166770.9 |
申请日期 |
2006.12.14 |
申请人 |
三星电子株式会社 |
发明人 |
林赫;朴永洙;鲜于文旭;车映官 |
分类号 |
H01L21/336(2006.01);H01L21/20(2006.01);H01L29/786(2006.01) |
主分类号 |
H01L21/336(2006.01) |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 |
代理人 |
陶凤波 |
主权项 |
1、一种制造底栅薄膜晶体管的方法,该方法包括:在衬底上形成底栅电极;在所述衬底上形成栅极绝缘层以覆盖所述底栅电极;在所述栅极绝缘层上依次形成非晶半导体层、N型半导体层和电极层;依次蚀刻形成在所述底栅电极上的电极区和N型半导体层区以暴露非晶半导体层区;使用激光退火法熔化所述非晶半导体层区;和结晶所述熔化的非晶半导体层区以形成侧向生长的多晶硅沟道区。 |
地址 |
韩国京畿道 |