发明名称 | 回流方法、图案形成方法及薄膜电晶体之制造方法 | ||
摘要 | 〔课题〕本发明系一面确保被处理体的图案之精度之均匀性、一面省光阻剂化以及达到制程数、总制程时间、微影相关装置之台数的削减。〔解决手段〕在步骤S7之回流处理前,在步骤S6进行表面改质处理。藉由表面改质处理,n#sP!+#eP!Si膜205的露出表面会被表面改质,形成表面改质处理面205a。其次,利用回流处理元件(REFLW)60施行回流处理。虽然已软化的光阻剂会因该回流处理而变形,但已软化的光阻剂之流动,利用n#sP!+#eP!Si膜205的表面改质处理面205a抑制,回流后的变形光阻剂212超过下层的源极电极206a与汲极电极206b的面积,而超出周围的现象被大幅抑制。 | ||
申请公布号 | TW200830413 | 申请公布日期 | 2008.07.16 |
申请号 | TW096141705 | 申请日期 | 2007.11.05 |
申请人 | 东京威力科创股份有限公司 | 发明人 | 麻生丰;大森传 |
分类号 | H01L21/312(2006.01);H01L29/786(2006.01);H01L21/027(2006.01) | 主分类号 | H01L21/312(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 林志刚 | |
主权项 | |||
地址 | 日本 |