| 发明名称 |
A TEST CIRCUIT FOR TESTING A MEMORY DEVICE AND METHODS FOR PERFORMING WRITING AND TESTING IN SUCH DEVICES |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
GB2232496(B) |
申请公布日期 |
1993.06.02 |
| 申请号 |
GB19900002396 |
申请日期 |
1990.02.02 |
| 申请人 |
* SAMSUNG ELECTRONICS COMPANY LIMITED |
发明人 |
HOON * CHOI |
| 分类号 |
G11C29/00;G11C7/00;G11C11/401;G11C11/409;G11C11/4094;G11C29/12;G11C29/34;G11C29/36;G11C29/50;G11C29/56 |
主分类号 |
G11C29/00 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
