发明名称 CIRCUIT POUR AUGMENTER LA VITESSE DE FONCTIONNEMENT D'UN DISPOSITIF DE MEMOIRE A SEMI-CONDUCTEUR.
摘要 <P>Dispositif de mémoire à semi-conducteur avec un circuit de détection de transition d'adresse comprenant un détecteur de signal d'entrée (100B) recevant un signal entré de l'extérieur (APi, APiB) qui est mis en mémoire tampon pour détecter un signal souhaité, un moyen de commande (100C) pour produire un signal pour commander un amplificateur de détection en réponse au signal de sortie dudit détecteur de signal d'entrée (100B),; et un générateur de signal d'égalisation (100D) recevant les signaux de sortie (SPG, SACS) du détecteur de signal d'entrée (100B) et du moyen de commande (100C), pour produire un signal d'égalisation (PHIpzd) pour égaliser une paire de lignes de bits et/ou de lignes d'entrée/sortie de données, ce par quoi ladite paire de lignes de bits et/ou paire de lignes d'entrée/sortie de données sont toujours égalisées pendant que ledit amplificateur de détection n'est pas mis en œuvre.</P>
申请公布号 FR2683934(A1) 申请公布日期 1993.05.21
申请号 FR19920011195 申请日期 1992.09.21
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD 发明人 LEE HYONG-GON;JANG CHEOL-UNG;CHO SUNG-HEE
分类号 G11C11/41;G11C7/10;G11C7/12;G11C7/22;G11C8/18 主分类号 G11C11/41
代理机构 代理人
主权项
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