| 发明名称 | 改变光学性质的方法、光器件、信息记录介质方法及装置 | ||
| 摘要 | 通过控制散布在介电基质(14)内之半导体微粒(13)的呈量子晶粒尺寸效应之晶态部分的直径获得(即使在室温下)高密度光信息记录，这种直径控制是利用微粒非晶态到晶态的相变来实现的。量子晶粒尺寸效应指介质的光学性质取决于晶态部分的直径。用这种记录介质可以实现各种记录、再生、和擦除信息的方法，本发明可用于其它光器件。 | ||
| 申请公布号 | CN1072272A | 申请公布日期 | 1993.05.19 |
| 申请号 | CN92104788.6 | 申请日期 | 1992.06.19 |
| 申请人 | 株式会社日立制作所 | 发明人 | 前田佳均;生田勋;永井正一;加藤义美;安藤寿;本信夫 |
| 分类号 | G02F1/03;G11B9/00 | 主分类号 | G02F1/03 |
| 代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利代理部 | 代理人 | 乔晓东 |
| 主权项 | 1、一种改变物体光学性质的方法，其特征为：所述物体具有在基质(14)中分布的半导体微粒(13)，它包括对所述物体施加能量改变所述粒子晶态部分区域(32)的尺寸，且这部分区域的尺寸可呈量子晶粒尺寸效应。 | ||
| 地址 | 日本东京 | ||