| 摘要 |
L'invention concerne un appareil et un procédé de détection et de mesure de vues tridimensionnelles permettant de collecter rapidement des données de surfaces X-Y-Z permettant l'application de fonctions de mesures dimensionnelles, d'inspection de surfaces et de CAO inversée. Le système de mesure de surfaces tridimensionnelles rapide, destiné à être utilisé pour déterminer la surface d'un objet (1) à partir d'au moins deux signaux électroniques, comporte au moins une première source (4) éclairant au moins une surface de l'objet présentant une configuration marginale. On a prévu au moins deux caméras (2, 3) destinées à recevoir l'éclairage réfléchi par la surface, chacune des deux caméras (2, 3) ayant une orientation spatiale prédéterminée par rapport à la source (1) d'éclairage, la première caméra (2) ayant une ligne de collimation formant un premier angle par rapport à une ligne de collimation de la source (1) d'éclairage, et la seconde caméra (3) ayant une ligne de collimation formant un second angle par rapport à la ligne de collimation de la source (1) d'éclairage, le second angle étant différent du premier. La première caméra (2) fournit un premier signal électronique représentatif de l'éclairage réfléchi ainsi reçu, et la seconde caméra (3) fournit un second signal électronique représentatif de l'éclairage réfléchi ainsi reçu. |
