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发明名称 TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
摘要
申请公布号 JPH05107305(A) 申请公布日期 1993.04.27
申请号 JP19910193293 申请日期 1991.08.01
申请人 YAMAHA CORP 发明人 MURAMATSU TOSHIHIKO
分类号 G01R31/26;H01L21/66 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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