发明名称 METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING DEFICIENCY OF ELECTRONIC COMPONENT
摘要
申请公布号 JPH05107291(A) 申请公布日期 1993.04.27
申请号 JP19910293748 申请日期 1991.10.14
申请人 TDK CORP 发明人 SAITO HIROSHI;YURI SHUNICHI
分类号 G01R27/02;G01R31/00 主分类号 G01R27/02
代理机构 代理人
主权项
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