首页 产品 黄页 商标 征信
会员服务 注册 登录 
全部
 |
企业名
 |
法人/股东/高管
 |
品牌/产品
 |
地址
 |
经营范围
发明名称 EQUIPMENT FOR TESTING PARAMETERS OF SEMICONDUCTOR DEVICES
摘要
申请公布号 RU1810848(C) 申请公布日期 1993.04.23
申请号 SU19914905984 申请日期 1991.01.28
申请人 PROIZVODSTVENNOE OB"EDINENIE "MONOLIT" 发明人 MALETSKIJ VLADIMIR I
分类号 G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
©  2024 传众  czvv.com