发明名称 SEMICONDUCTOR DEVICE TEST PROBE CARD
摘要
申请公布号 JPH05102254(A) 申请公布日期 1993.04.23
申请号 JP19910259125 申请日期 1991.10.07
申请人 FUJITSU LTD 发明人 WATANABE MASATO;TOGASHI KENJI
分类号 G01R31/26;H01L21/66 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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