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发明名称 GENERATION OF IN-CIRCUIT TEST PATTERN
摘要
申请公布号 JPH0593758(A) 申请公布日期 1993.04.16
申请号 JP19910255501 申请日期 1991.10.02
申请人 NEC CORP 发明人 KANDA YOSHIMASA
分类号 G01R31/3183;G01R31/28;H01L21/66 主分类号 G01R31/3183
代理机构 代理人
主权项
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