TESTING METHOD FOR LOGIC CIRCUIT,申请号JP19910254919-传众专利搜索

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发明名称	TESTING METHOD FOR LOGIC CIRCUIT
摘要
申请公布号	JPH0593765(A)	申请公布日期	1993.04.16
申请号	JP19910254919	申请日期	1991.10.02
申请人	NEC CORP	发明人	NISHIDA MASARU
分类号	G01R31/317;G01R31/28;H03K19/00	主分类号	G01R31/317
代理机构		代理人
主权项
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