发明名称 |
VARIABLE DELAY CIRCUIT CALIBRATING METHOD AND TIMING SIGNAL GENERATOR AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE |
摘要 |
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申请公布号 |
JPH0580126(A) |
申请公布日期 |
1993.04.02 |
申请号 |
JP19910239989 |
申请日期 |
1991.09.19 |
申请人 |
HITACHI LTD |
发明人 |
SUGA TAKU;HAYASHI YOSHIHIKO |
分类号 |
G01R31/3183;G01R31/28;G01R35/00 |
主分类号 |
G01R31/3183 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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