发明名称 | 场分布自动电光检测装置 | ||
摘要 | 一种电场分布自动电光检测装置,包括光路系统、光电探测器和锁相放大器,特征是设置了以微机控制的二维步进驱动系统,实现探测激光对被测样品的二维自动扫描,并从锁相放大器输入表征被测样品内电场强度的电压量,进行自动采集、处理、存贮、显示或曲线描绘。该装置测量灵敏度和扫描精度高,测量重复性好,缩短了测量时间,提高了效率。采用不同光源的光路系统和不同的检测方式,可测量不同的材料及其器件中电场分布及有关特性。 | ||
申请公布号 | CN1070045A | 申请公布日期 | 1993.03.17 |
申请号 | CN92108878.7 | 申请日期 | 1992.07.18 |
申请人 | 浙江大学 | 发明人 | 朱祖华;丁桂兰;楼东武;周强;丁纯 |
分类号 | G01R29/14 | 主分类号 | G01R29/14 |
代理机构 | 浙江大学专利代理事务所 | 代理人 | 崔勇才 |
主权项 | 1、一种电场分布自动电光检测装置,包括激光器[1]、准直物镜[2]、滤光片[20]、分束器[4]、聚焦物镜[5]、固定在样品架上的被测样品[6]、分束器[7]、透镜[8]、电视摄像机[9]、滤光片[19]、1/4波片[13]、检偏器[14]、聚焦物镜[15]、光电探测器[16]、锁相放大器[17]、激励电路[18],本发明的特征在于设置了一个以微机为主体的数据采集、处理系统[25]和一个二维步进驱动系统,驱动样品架作二维步进移动的是微机控制的二维步进驱动系统,微机对锁相放大器[17]输入的表征被测样品[6]内电场强度的电压量,进行自动数据采集、处理、存贮,最后进行屏幕显示或进行曲线描绘的是微机的终端记录设备[26]。 | ||
地址 | 310027浙江省杭州市玉泉 |