METHOD AND DEVICE FOR MEASUREMENT OF STATE OF IC LEAD FRAME,申请号JP19910244468-传众专利搜索

发明名称	METHOD AND DEVICE FOR MEASUREMENT OF STATE OF IC LEAD FRAME
摘要
申请公布号	JPH0563050(A)	申请公布日期	1993.03.12
申请号	JP19910244468	申请日期	1991.08.29
申请人	ADOTETSUKU ENG:KK	发明人	KANEDA NORIAKI
分类号	G01R31/26;H01L21/66;H01L23/50;H05K13/02	主分类号	G01R31/26
代理机构		代理人
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