发明名称 BURN-IN FURNACE FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TEST
摘要
申请公布号 JPH0547877(A) 申请公布日期 1993.02.26
申请号 JP19910208125 申请日期 1991.08.20
申请人 NEC CORP 发明人 OTA HIROYUKI
分类号 G01R31/26;H01L21/66 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利