发明名称 QUANTITATIVE ANALYSIS METHOD IN SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY
摘要
申请公布号 JPH0547347(A) 申请公布日期 1993.02.26
申请号 JP19910199616 申请日期 1991.08.08
申请人 NEC CORP 发明人 HOSHINO HITOSHI
分类号 H01J49/26 主分类号 H01J49/26
代理机构 代理人
主权项
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