发明名称 METHOD AND APPARATUS FOR MAGNETIC IDENTIFICATION AND LOCALIZATION OF FLAWS IN CONDUCTORS.
摘要 On détecte des défauts dans un objet échantillon électroconducteur (1) en neutralisant le champ magnétique généré par un courant de détection passé à travers l'objet échantillon en faisant repasser ledit courant à travers un objet neutralisateur de champ exempt de défauts (39) placé à proximité de l'objet échantillon, et en mesurant le champ non neutralisé produit par un défaut quelconque, de préférence à l'aide d'un magnétomètre (101) à dispositif d'interférence quantique supraconducteur. Des objets allongés tels que des tubes (85) et des tiges (93) sont introduits dans un manchon (87, 95) qui constitue l'objet neutralisateur de champ, le courant étant appliqué à l'élément allongé et transmis au manchon neutralisateur de champ par des contacts coulissants (89, 96).
申请公布号 EP0528021(A1) 申请公布日期 1993.02.24
申请号 EP19920908485 申请日期 1992.03.05
申请人 VANDERBILT UNIVERSITY 发明人 WIKSWO, JOHN, P., JR.;CRUM, DUANE;HENRY, WILLIAM, P.;SEPULVEDA, NESTER, G.
分类号 G01N27/83 主分类号 G01N27/83
代理机构 代理人
主权项
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