| 发明名称 |
METHOD AND DEVICE FOR DIAGNOSING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH0545424(A) |
申请公布日期 |
1993.02.23 |
| 申请号 |
JP19910335921 |
申请日期 |
1991.11.27 |
| 申请人 |
AMERICAN TELEPH & TELEGR CO <ATT> |
发明人 |
JIYOOJI TEII HAABEI;MAIKERU ESU HIYUUMEEKAA;MAAKU JII KUJIKU;KENESU DEBUITSUDO SHINGAA |
| 分类号 |
G01R19/00;G01R31/302;G01R31/308;G02F1/15;H01L21/66;H01S3/107 |
主分类号 |
G01R19/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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