发明名称 METHOD AND APPARATUS FOR AUTOMATIC DENSITOMETER ALIGNMENT
摘要 Système et procédé établissant automatiquement la position d'un échantillon imprimé (18) par rapport à un réflectomètre (14). L'échantillon (18) est placé sur une table de mesure (10). Une cible incorporée à l'échantillon (18) provoque une variation brusque dans le signal de sortie du réflectomètre lorsque ce dernier (14) effectue un balayage sur la cible (26). L'analyse du changement brusque permet de déterminer où se trouve la cible (26) par rapport à la table de mesure (10). L'emplacement de tous les points sur l'échantillon (18) est connu par rapport à la cible (26), ainsi on peut déterminer l'emplacement de tous les points sur l'échantillon (18) par rapport à la table de mesure (10).
申请公布号 WO9303325(A1) 申请公布日期 1993.02.18
申请号 WO1992US06529 申请日期 1992.08.04
申请人 GRAPHICS MICROSYSTEMS, INC. 发明人 COX, JAMES, R.;COLVIN, MARK, A.
分类号 B41F33/00;G01B11/00 主分类号 B41F33/00
代理机构 代理人
主权项
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