发明名称 METHOD AND ARRANGEMENTS FOR TESTING MEGABIT MEMORY MODULES WITH ARBITRARY TEST PATTERNS IN A MULTIPLE BIT TEST MODE
摘要
申请公布号 EP0263470(B1) 申请公布日期 1993.02.17
申请号 EP19870114519 申请日期 1987.10.05
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 LIESKE, NORMEN, DR.;SEICHTER, WERNER, DIPL.-ING.
分类号 G01R31/28;G06F11/267;G11C29/00;G11C29/02;G11C29/34;G11C29/56 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利