DRIVER CIRCUIT FOR TESTING BI-DIRECTIONAL TRANSCEIVER SEMICONDUCTOR PRODUCTS.

摘要

On décrit un circuit de commande destiné à tester des produits semi-conducteurs pour émetteurs-récepteurs bidirectionnels aussi vite que possible et à l'aide d'un minimun de broches d'accès aux produits. Le circuit comporte une paire de sources de courant à amplitude commandée dont on commute les courants de sortie de manière sélective à l'entrée dans les émetteurs normaux d'un commutateur de courant, ou en partie à la sortie de ceux-ci. Le commutateur de courant est excité par une source de tension variable et produit la tension de sortie de test.