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发明名称 METHOD OF TESTING INTEGRATED CIRCUITS
摘要
申请公布号 RU1795386(C) 申请公布日期 1993.02.15
申请号 SU19904833648 申请日期 1990.06.01
申请人 FRYAZINSKIJ TSNII "TSIKLON" 发明人 DEMOCHKO YURIJ A,SU;MASHCHENKO VLADIMIR V,SU;RABODZEJ ALEKSANDR N,SU
分类号 G01R31/28;H01L21/66 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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