| 摘要 |
<p>Baugruppen, z.B. Leiterplatten (LP), die unterschiedlichste Arten von elektronischen Komponenten enthalten, z.B. digitale, analoge, sensorische Komponenten, werden dadurch auf Fehlerfreiheit geprüft, daß ein auf der Baugruppe sowieso vorhandener Mikroprozessor oder Mikrocontroller zum Prüfen verwendet wird. In diesem Mikroprozessor ist ein Prüfprogramm enthalten, das das Erzeugen von Testvektoren veranlaßt und die Überprüfung der aufgrund der Testvektoren abgegebenen Testantwort ermöglicht. Um die Testvektoren zur Prüfung der auf der Baugruppe vorhandenen Komponenten verwenden zu können, veranlaßt der Mikroprozessor, daß die zu prüfenden Komponenten über Meßschleifen, die unter Ausnützung der vorhandenen elektrischen Verbindungen gebildet werden, in sinnvoller Anordnung miteinander verbunden werden und um den Eingängen der Baugruppe Prüfsignale zuführen zu können, die den Signalen entsprechen, die im Einsatzfall der Baugruppe zugeführt werden. Dazu wird ein Eigentestadapter (AD) verwendet, der Ausgänge der Baugruppe mit Eingängen der Baugruppe verbindet. Über die Meßschleifen können die Komponenten der Baugruppe in sinnvoller Weise miteinander verbunden werden und damit überprüft werden, ob die Komponenten bzw. deren Verbindungen fehlerfrei sind.</p> |
