发明名称 DEVICE FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENTS OF A UNIT INTERCONNECTED ACCORDING TO THE APPLICATION
摘要 On contrôle l'absence de défauts de modules, par exemple des circuits imprimés (LP), qui comportent une très grande diversité de composants électroniques, par exemple des composants numériques, analogiques ou de détection, en utilisant pour ce contrôle un microprocesseur ou un microcontrôleur installé de toute manière sur ce module. Le microprocesseur contient un programme de contrôle qui provoque la création de vecteurs de test et qui permet le contrôle de la réponse au test émise sur la base des vecteurs de test. Pour pouvoir utiliser les vecteurs de test pour le contrôle des composants présents sur le module, le microprocesseur agit de manière à ce que les composants à contrôler soient reliés entre eux, selon une disposition cohérente, par des boucles de mesure qui sont formées à l'aide des liaisons électriques présentes et, pour pouvoir introduire dans les entrées des modules des signaux de contrôle correspondant aux signaux qui sont introduits lorsqu'on utilise ce module, on a recours à un adaptateur d'autocontrôle (AD) qui relie des sorties du module à des entrées du module. Par l'intermédiaire des boucles de mesure, on peut relier entre eux, de manière cohérente, les composants du module et vérifier ainsi si les composants ou leurs liaisons ne comportent pas de défauts.
申请公布号 WO9302415(A1) 申请公布日期 1993.02.04
申请号 WO1992DE00535 申请日期 1992.06.29
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 BECK, CHRISTOPH;DYMANN, FRANCK;HANSTEIN, BERND;SEVERLOH, HORST
分类号 G01R31/319 主分类号 G01R31/319
代理机构 代理人
主权项
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