发明名称 使用多个扫描点之光学扫描装置
摘要 一种使用多个扫描点 (13,14,15,16) 之光扫描装置,用以同时扫描光录载体 (1) 上之若干资讯轨道 (3,4,5,6) 。利用多个扫描点
申请公布号 TW199226 申请公布日期 1993.02.01
申请号 TW080101997 申请日期 1991.03.13
申请人 飞利浦电泡厂 发明人 威廉.格瑞.欧凡;约瑟夫.佩达.亨利克.贝休
分类号 G11B7/00 主分类号 G11B7/00
代理机构 代理人 陈长文 台北巿敦化北路二○一号七楼
主权项 1.一种依光方式扫描记录载体内资讯平面之装置,此平面有轨道结构,其装置包括有供应若干扫描光束之多辐射源,使每一扫描光束聚焦于资讯平面上单独扫描光点之物镜装置,及用以使来自资讯平面之辐射变换为电信号之辐射敏侦检装置,此电信号包括资讯平头该扫描部份,扫描光点与所扫描轨道招关位置,及扫描光束与资讯平面相对之聚焦程度等相关资讯,其中此填检装置许多侦检器中与各别扫描光束相关之每一侦检器皆适于供应电信号,此信号包括有相关扫插光点与所扫描轨道相关位置,因而及/或相关扫描光束与资讯平面相关之聚焦状况等相关资讯,且其中侦检器之输出系耦合至一信号处理电路以将电气信号合并至一平均之聚焦误差信号及/或一平均之循轨误差信号及/或一差动循轨误差信号及/或一歪斜误差信号。2.根据申请专利范围第1项之装置,其中各扫描充点皆配置于第一线上。3.根据申请专利范围第1项之装匮,其中各扫描光点皆配置于许多线上。4.根据申请专利范围第2项之装置,其中与外列扫描光点相关之侦检器皆适于供应包括有关与资讯平头相关之扫描光束聚焦程度之资讯之信号。5.根据申请专利范围第4项之装置,其申辐射源供应第二扫描光束组,此等光束于资讯平面上产生第二扫描光点组,此等光点系配置于与第一扫描光点线相交叉之第二线上,又其侦检装置内之第二侦检器组系与第二扫描光束组相关,此等侦检器有许多皆适于供废聚焦误差信号。6.根据申请专利范围第2或3项之装置,其中侦检装置之所有侦检器皆适于供应相关扫描光束之聚焦误差信号。7.根据申请专利范围第2或3项之装置,其中使像散合入之元件系配置于由记录载体反射之辐射路径上,又其适于供应聚焦误差信号之每一侦检器皆包括有四象限侦检器。8.根据申请专利范围第2或3项之装置,其中由每一光束产生两分光束之光束分裂元件系配置于由记录载体反射之辐射路径上,两其适于媒应聚焦误差信号之每一侦检器,包括有两侦检元件时,每一对皆与一分光束相关。9.根据申请专利范围第1,2或3项之装置,其之扫描光点列依与局部轨道方向成一小角度伸展,其中与列中心两侧之两扫描光点相关之侦测器皆适于供应包括有关与相关轨遁中心线相对之两扫描光点之每一光点中心所在位置之资讯。10.根据申请专利范围第9项之装置,其中侦检装置之所有侦检器皆适于供应包含有与相关轨道中心线相关之有关扫描光点中心位置有关之资讯信号。11.根据申请专利范围第1,2或3项之装置,包括有配置于多辐射源与物镜装置间之平行光管透镜装置,其中此透镜装置包括有平行光管透镜装置,而物镜装置系实施成为双远心装置,又平行光管透镜装置之数字孔隙系与多辐射源
地址 荷兰