发明名称 STRUCTURE ET PROCEDE D'ETALONNAGE DIRECT DE SYSTEMES DE MESURE D'ALIGNEMENT, BASES SUR LA TOPOGRAPHIE REELLE DU PROCEDE DE FABRICATION D'UNE PLAQUETTE A SEMI-CONDUCTEUR.
摘要 <P>La structure d'étalonnage (34) comporte une structure d'alignement (36A) de décalage de valeur nulle et plusieurs structures d'alignement (36B-I) de décalage de valeur non nulle. En mesurant le déplacement de la structure d'alignement de décalage de valeur nulle à 0degré , 90), 180degré et 270degré , on détermine la dérive provoquée par l'instrument de mesure ainsi que la présence éventuelle d'astigmatisme. En en tenant compte dans une mesure des déplacements de toutes les structures d'alignement, de décalage de valeur nulle et non nulle, à 0degré , on détermine les erreurs systématiques de la mesure.</P>
申请公布号 FR2679701(A1) 申请公布日期 1993.01.29
申请号 FR19920007902 申请日期 1992.06.26
申请人 DIGITAL EQUIPMENT CORP 发明人 CORLISS DANIEL A.
分类号 G03F7/20;G03F9/00;H01L21/027;H01L21/30;H01L21/66 主分类号 G03F7/20
代理机构 代理人
主权项
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