| 摘要 |
Le dispositif sert pour l'analyse opto-électronique, par points ou par lignes, d'originaux en demi-teinte et d'originaux de trait. Il est prévu à la fois un système d'analyse de demi-teinte (3) et un système d'analyse de trait (4). Le système d'analyse de demi-teinte comme le système d'analyse de trait se présentent sous la forme d'installations à plusieurs canaux. Pour sélectionner soit le système d'analyse de demi-teinte soit le système d'analyse de trait, il est prévu un dispositif d'inversion (5). |
