发明名称 MEASURING METHOD AND DEVICE FOR X-RAY DIFFRACTION
摘要
申请公布号 JPH04366757(A) 申请公布日期 1992.12.18
申请号 JP19910168657 申请日期 1991.06.13
申请人 RIGAKU CORP 发明人 SAKURAI HITOSHI;ARAI KATSUYUKI;MORITA AKIHIRO;NAKAYAMA MASAO
分类号 G01N23/207 主分类号 G01N23/207
代理机构 代理人
主权项
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