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发明名称
IC TESTING METHOD USING IC TESTER
摘要
申请公布号
JPH04359171(A)
申请公布日期
1992.12.11
申请号
JP19910134564
申请日期
1991.06.06
申请人
NEC KYUSHU LTD
发明人
IWASAKI MASARU
分类号
G01R31/26;H01L21/66
主分类号
G01R31/26
代理机构
代理人
主权项
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