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经营范围
发明名称
TESTING METHOD FOR REPAIRED LSI
摘要
申请公布号
JPH04359170(A)
申请公布日期
1992.12.11
申请号
JP19910134026
申请日期
1991.06.05
申请人
HITACHI LTD
发明人
ENDO TAKESHI;KUROSAKI MASATO;OKAZAKI YOSHINOBU
分类号
G01R31/26
主分类号
G01R31/26
代理机构
代理人
主权项
地址
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