RAM TESTING CIRCUIT INCORPORATING LSI,申请号JP19910120566-传众专利搜索

发明名称	RAM TESTING CIRCUIT INCORPORATING LSI
摘要
申请公布号	JPH04349299(A)	申请公布日期	1992.12.03
申请号	JP19910120566	申请日期	1991.05.27
申请人	NEC IC MICROCOMPUT SYST LTD	发明人	YOKOZAWA YASUHIRO
分类号	G01R31/28;G11C29/00;G11C29/02;G11C29/56	主分类号	G01R31/28
代理机构		代理人
主权项
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