发明名称 MEASURING CIRCUIT FOR DEVICE OPERATION CURRENT OF IC TESTER
摘要
申请公布号 JPH04340482(A) 申请公布日期 1992.11.26
申请号 JP19910113018 申请日期 1991.05.17
申请人 HITACHI ELECTRON ENG CO LTD 发明人 MOTOIKE TAKASHI
分类号 G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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