发明名称 ELECTRON BEAM TESTER
摘要
申请公布号 JPH04331390(A) 申请公布日期 1992.11.19
申请号 JP19910108791 申请日期 1991.04.12
申请人 NEC CORP 发明人 NAKAMURA TOYOICHI;FUTAGAWA KIYOSHI;TSUJIIDE TORU
分类号 G01R31/302;H01L21/66 主分类号 G01R31/302
代理机构 代理人
主权项
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