发明名称 Procedure and device for non-contact on-line measurements.
摘要 Mit einem Infrarotstrahler 2, dessen Oberflächentemperatur während der Messung konstant gehalten wird, wird ein Meßbereich 4 auf einer Materialoberfläche unter schrägem Strahleneinfall wärmebestrahlt. Die Temperatur der reflektierten Wärmestrahlung wird mit einem Infrarot-Thermometer 3 gemessen, das oberhalb des Meßbereiches so angeordnet ist, daß die reflektierte Strahlung in das Sichtfeld des Infrarot-Thermometers einfällt. Der gesamte Meßbereich der Materialoberfläche, der im Sichtfeld des Infrarot-Thermometers liegt, muß wärmebestrahlt werden. Der gemessene Temperaturverlauf der reflektierten Strahlung in Abhängigkeit von der Oberflächenbeschaffenheit des Materials wird in einer Vergleichseinrichtung 7 abgespeichert. Dieser Vergleichseinrichtung 7 wird ein Sollwert für die gewünschte Oberflächenbeschaffenheit eingespeist. Es wird die Infrarottemperatur einer zunächst bezüglich ihrer Oberflächenbeschaffenheit unbekannten Materialoberfläche gemessen und mit dem abgespeicherten Temperaturverlauf verglichen, um die Größe des Oberflächenparameters zu bestimmen. Aus dem so erhaltenen Wert und dem eingespeisten Sollwert wird ein Differenzsignal gebildet, das über den Ausgang 8 der Vergleichseinrichtung 7 einer Steuerung 9 einer Bearbeitungseinrichtung für das Material zugeführt wird. <IMAGE>
申请公布号 EP0512313(A2) 申请公布日期 1992.11.11
申请号 EP19920106787 申请日期 1992.04.21
申请人 HOECHST AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 SCHMIDT, HUGO, DR. DIPL. PHYS.;RUCKSZIO, MANFRED;HAAS, RAIMUND, DR. DIPL. ING.
分类号 G01B11/06;G01B11/30 主分类号 G01B11/06
代理机构 代理人
主权项
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